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J-GLOBAL ID:200902134314781471   整理番号:01A0982005

大口径φ300mmSiウエハ用超加工機械の開発

Development of One-Stop Manufacturing System for Large-sized φ300mm Si Wafer.
著者 (6件):
資料名:
巻: 67  号: 10  ページ: 1693-1697  発行年: 2001年10月05日 
JST資料番号: F0268A  ISSN: 0912-0289  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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固定砥粒方式を用いてφ300mmウエハの加工工程を1台の加工...
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分類 (1件):
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固体デバイス材料 
引用文献 (10件):
  • TOSHOFF, H. K. Abrasive Machining of Silicon. Annals of CIRP. 1990, 39/2, 621-635
  • TAKADA, K. Significance of Government-Private Joint Research Consortium. Advances in Abrasive Technology. 2000, III, 17-20
  • KERSTAN, M. Silicon Wafer Substrate Planarization Using Simultaneous Double-disk Grinding. Advances in Abrasive Technology. 2000, III, 211-222
  • 森勇藏. EEMとその表面. 精密機械. 1980, 46,6, 659
  • 難波義治. フロート・ポリシング, 超精密生産技術大系第1巻基本技術. 1995, 337-341
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タイトルに関連する用語 (4件):
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