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J-GLOBAL ID：200902161769625548   整理番号：97A0170433

周辺リード型素子のコーナーのリード線の振動による疲れ寿命評価

Vibration Induced Fatigue Life Estimation of Corner Leads of Peripheral Leaded Components.

著者 (2件)： SIDHARTH (Univ. Maryland, MD) ,  BARKER D B (Univ. Maryland, MD)
資料名： Journal of Electronic Packaging  (Journal of Electronic Packaging)
巻： 118  号： 4  ページ： 244-249  発行年： 1996年12月 
JST資料番号： T0929A  ISSN： 1043-7398  CODEN： JEPAE4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 集積回路とその関連電子技術の急速な発展により,電子パッケージ...

シソーラス用語： ICパッケージ ,...

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分類 (2件)： プリント回路  (NA05040O) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 周辺 ,  リード ,  コーナー ,  疲れ寿命 ,  評価