文献
J-GLOBAL ID：200902161769625548
整理番号：97A0170433 周辺リード型素子のコーナーのリード線の振動による疲れ寿命評価
Vibration Induced Fatigue Life Estimation of Corner Leads of Peripheral Leaded Components.
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SIDHARTH
SIDHARTH について
(Univ. Maryland, MD)
, Univ. Maryland, MD について
BARKER D B
BARKER D B について
(Univ. Maryland, MD)
Univ. Maryland, MD について
資料名：
Journal of Electronic Packaging
(Journal of Electronic Packaging)
Journal of Electronic Packaging について
巻： 118 号： 4 ページ： 244-249 発行年： 1996年12月
JST資料番号： T0929A ISSN： 1043-7398 CODEN： JEPAE4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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集積回路とその関連電子技術の急速な発展により,電子パッケージ...
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シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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ICパッケージ
,...
ICパッケージ について
分類 (2件)：
分類
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プリント回路
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(NA05040O)
, 固体デバイス計測・試験・信頼性
プリント回路 について
(NC03040G)
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
タイトルに関連する用語 (5件)：
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周辺
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コーナー
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疲れ寿命
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評価
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