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J-GLOBAL ID：200902167571042570   整理番号：93A0588266

論理関数処理に基づく順序回路のテスト生成法

Test Generation for Sequential Circuits Based on Boolean Function Manipulation.

著者 (5件)： CHOI H (大阪大 工) ,  小原隆司 (大阪大 工) ,  石浦菜岐佐 (大阪大 工) ,  白川功 (大阪大 工) ,  本原章 (松下電器産業)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 A  (IEICE Transaction on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Japan Edition))
巻： 76  号： 6  ページ： 835-843  発行年： 1993年06月 
JST資料番号： S0621A  ISSN： 0913-5707  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本論文では,論理関数処理に基づく順序回路のテスト生成アルゴリ...

シソーラス用語： 論理関数 ,...
準シソーラス用語： テスト生成

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (19件)：

• ROTH, J. P. Diagnosis o fautomata failures : A calculus and a method. IBM J. Res. & Dev. 1966, 10, 278-291
• GOEL, P. An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational logic circuits. IEEE Trans. Comput. 1981, C-30, 215-222
• FUJIWARA, H. On the acceleration of Test Generation algorithm. IEEE Trans. Comput. 1983, C-32, 1137-1144
• SCHULTS, M. H. SOCRATES : A highly efficient automatic test pattern generation system. IEEE Trans. Comput. -Aided Des. Integrated Circuits & Syst. 1988, CAD-7, 126-137
• EICHELBERGER, E. B. A logic design structure for LSI testability. Proc. Design Automation Conference. 1977, 462-468

タイトルに関連する用語 (3件)： 論理関数 ,  順序回路 ,  テスト生成