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J-GLOBAL ID:200902172547829988   整理番号:01A0749363

エレクトロニクス実装のためのシミュレーション技術 4. 強度設計 半導体パッケージのはんだ接合における応力・ひずみ・構造解析手法の理論と現状

著者 (2件):
資料名:
巻:号:ページ: 402-405  発行年: 2001年08月01日 
JST資料番号: S0579C  ISSN: 1343-9677  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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半導体パッケージの技術進歩の方向は,小型化,高密度化およびモ...
シソーラス用語:
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準シソーラス用語:
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分類 (2件):
分類
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接続部品  ,  ろう付 
引用文献 (12件):
  • SAKAI, H. Shape Prediction and Residual Stress Evaluation of BGA and Flip Chip Solder Joints. IEEE/CPMT Itherm 2000 Proceedings. 2000, 2, 181-186
  • 中村春夫. はんだの力学的性質のデータベースの構築. 日本機械学会研究協力部会RC128研究分科会報告書. 1996, 363-390
  • 佐山利彦. はんだ材料の機械的特性の評価法. 日本機械学会研究協力部会RC144研究分科会報告書. 1998, 223-234
  • 于強. BGAパッケージはんだ接合部の非線形ひずみの簡易評価法. 日本機械学会研究協力部会RC144研究分科会報告書. 1998, 491-548
  • KITANO, M. A New Evaluation Method for Thermal Fatigue Strength of Solder Joint. Proc. Advances in Electronic Packaging, EEP. 1992, 1-1, 301-308
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