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J-GLOBAL ID：200902178764047759   整理番号：02A0294014

組合せ回路における多重及び単一故障シミュレーションを用いた多重縮退故障の診断

On Diagnosing Multiple Stuck-at Faults Using Multiple and Single Fault Simulation in Combinational Circuits.

著者 (4件)： TAKAHASHI H (Ehime Univ., Ehime, JPN) ,  BOATENG K O (Ehime Univ., Ehime, JPN) ,  SALUJA K K (Univ. Wisconsin, WI, USA) ,  TAKAMATSU Y (Ehime Univ., Ehime, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 21  号： 3  ページ： 362-368  発行年： 2002年03月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記診断法を提案した。この方法は,観測値と一致(不一致)する...

シソーラス用語： *組合せ回路 ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (5件)： 組合せ回路 ,  多重 ,  故障シミュレーション ,  縮退故障 ,  診断