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J-GLOBAL ID:200902222645787751   整理番号:03A0393132

X線定在波方法によるビスマス・ナノワイヤの構造解析

Structural Analysis of Bismuth Nanowire by X-Ray Standing Wave Method
著者 (7件):
資料名:
巻: 42  号: 4B  ページ: 2408-2411  発行年: 2003年04月30日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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ビスマスは清浄なSi(100)表面上に何の欠陥もなしに完全な...
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金属薄膜 
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