文献

J-GLOBAL ID：200902222645787751   整理番号：03A0393132

X線定在波方法によるビスマス・ナノワイヤの構造解析

Structural Analysis of Bismuth Nanowire by X-Ray Standing Wave Method

著者 (7件)： SAITO A (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MATOBA K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KURATA T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MARUYAMA J (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KUWAHARA Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MIKI K (NIMS, Ibaraki, JPN) ,  AONO M (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 42  号： 4B  ページ： 2408-2411  発行年： 2003年04月30日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ビスマスは清浄なSi(100)表面上に何の欠陥もなしに完全な...

シソーラス用語： 定在波 ,...
準シソーラス用語： X線定在波法

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=03A0393132&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0520B") }}

分類 (1件)： 金属薄膜  (BK14030T)

引用文献 (15件)：

• 1) M. Naitoh, H. Shimaya, S. Nishigaki, N. Oishi and F. Shoji: Surf. Sci. 377–379 (1997) 899.
• 2) K. Miki, J. H. G. Owen, D. R. Bowler, G. A. D. Briggs and K. Sakamoto: Surf. Sci. 421 (1999) 397.
• 3) M. Naitoh, H. Shimaya, S. Nishigaki, N. Oishi and F. Shoji: Appl. Surf. Sci. 142 (1999) 38.
• 4) K. Miki, D. R. Bowler, J. H. G. Owen, G. A. D. Briggs and K. Sakamoto: Phys. Rev. B 59 (1999) 14868.
• 5) K. Miki, H. Matsuhata, K. Sakamoto, J. H. G. Owen, D. R. Bowler and G. A. D. Briggs: Microscopy of Semiconducitng Materials, Inst. Phys. Conf. Ser. 164 (1999) 167.

タイトルに関連する用語 (5件)： X線 ,  定在波 ,  ビスマス ,  ナノワイヤ ,  構造解析