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J-GLOBAL ID：200902245616700914   整理番号：07A1044985

遅延故障に対する診断用テスト生成法

著者 (5件)： 相京隆 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  吉川達 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2007  ページ： ROMBUNNO.10-7  発行年： 2007年09月15日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *LSI【IC】 ,...
準シソーラス用語： *遅延故障 ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 遅延故障 ,  診断 ,  テスト生成