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J-GLOBAL ID:200902261739529859   整理番号:07A0410072

低温におけるホットワイヤー化学蒸着によって堆積させた無ドープ,N型およびP型水素化ナノ結晶炭化けい素の評価

Characterization of Undoped, N- and P-Type Hydrogenated Nanocrystalline Silicon Carbide Films Deposited by Hot-Wire Chemical Vapor Deposition at Low Temperatures
著者 (3件):
資料名:
巻: 46  号: 4A  ページ: 1415-1426  発行年: 2007年04月15日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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分類 (2件):
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半導体薄膜  ,  半導体の格子欠陥 

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