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J-GLOBAL ID：200902286599146485   整理番号：07A0067489

重イオン照射した0.2μm SOI論理セルにおけるSETパルス幅の直接測定

Direct Measurement of SET Pulse Widths in 0.2-μm SOI Logic Cells Irradiated by Heavy Ions

著者 (13件)： YANAGAWA Y. (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HIROSE K. (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  HIROSE K. (Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN) ,  SAITO H. (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SAITO H. (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  KOBAYASHI D. (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  KOBAYASHI D. (Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN) ,  FUKUDA S. (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  FUKUDA S. (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  ISHII S. (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  TAKAHASHI D. (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  YAMAMOTO K. (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  KURODA Y. (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 53  号： 6,Pt.1  ページ： 3575-3578  発行年： 2006年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 0.2μmの完全空乏型SOI技術によるNOR論理セルにおける...

シソーラス用語： *SEU【シングルイベント】 ,...
準シソーラス用語： *SET【シングルイベント】

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分類 (2件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 重イオン照射 ,  SOI ,  論理セル ,  SET ,  パルス幅 ,  直接測定