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J-GLOBAL ID：200902296927702248   整理番号：06A0225487

軟X線発光分光法により調べた(Pb,La)(Zr,Ti)O₃薄膜の価電子帯の電子構造

Electronic Structure in the Valence Band of (Pb,La)(Zr,Ti)O₃ Thin Films Probed by Soft-X-Ray Emission Spectroscopy

著者 (6件)： HIGUCHI Tohru (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  TSUKAMOTO Takeyo (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  HATTORI Takeshi (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  HONDA Yoshihisa (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  YOKOYAMA Shintaro (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  FUNAKUBO Hiroshi (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
資料名： Transactions of the Materials Research Society of Japan  (Transactions of the Materials Research Society of Japan)
巻： 31  号： 1  ページ： 23-26  発行年： 2006年03月 
JST資料番号： L4468A  ISSN： 1382-3469  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Pb(C₁₁H<sub>19</sub...

シソーラス用語： チタン酸塩 ,...
準シソーラス用語： *PZT【鉛化合物】 ,...

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分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y)

物質索引 (2件)： テトライソプロポキシチタン ,  テトラブトキシジルコニウム(IV)

タイトルに関連する用語 (9件)： 軟X線発光分光法 ,  Pb ,  La ,  Zr ,  Ti ,  O3 ,  薄膜 ,  価電子帯 ,  電子構造