特許
J-GLOBAL ID：200903000488610703

イオントラップ/飛行時間質量分析計およびイオンの精密質量測定方法

発明者：
三村 忠男

三村 忠男 について

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加藤 義昭

加藤 義昭 について

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奥本 豊治

奥本 豊治 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (2件)： 作田 康夫 ,  井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-144286
公開番号（公開出願番号）：特開2005-327579
出願日： 2004年05月14日
公開日（公表日）： 2005年11月24日
要約：
【課題】 MS/MSさらにMSn における生成物イオンの精密質量測定可能なイオントラップ/飛行時間質量分析計を提供する。【解決手段】 試料をイオン化するイオン源と、イオンを一時的にトラップ可能なイオントラップと、飛行時間型質量分析計を備えたイオントラップ/飛行時間型質量分析計を用い、前記イオン源で測定対象試料と質量数既知の標準試料のイオンを生成し、前記測定対象試料のイオンの中から前駆イオンを選択し、前記イオントラップ内で前記前駆イオンを励起,開裂させて生成物イオンを生成させた後に、前記イオントラップに、前記標準試料のイオンを導入しトラップし、トラップされた前記生成物イオンと標準試料のイオンとをイオントラップから排出し、前記飛行時間質量分析計に導き、質量スペクトルを得る。【効果】 内部標準法によってMSn 生成物イオンの精密質量測定が可能となる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試料分離するカラムを備えた液体クロマトグラフと、当該液体クロマトグラフから溶出した試料をイオン化するイオン源と、イオンを一時的にトラップ可能なイオントラップと、飛行時間型質量分析計と、当該飛行時間質量分析計の検出結果を収集するデータ処理部を備えたイオントラップ/飛行時間型質量分析計において、 前記液体クロマトグラフからの試料の溶出に合わせて、前記イオン源に質量数既知の標準試料を導入する手段を備え、 前記データ処理部は、 前記イオントラップにおいて、前記測定対象試料のイオンの中から前駆イオンを選択的に残し、当該前駆イオンを励起,開裂させて生成物イオンを生成した後に、前記標準試料のイオンを当該イオントラップ内に導入し、前記イオントラップ内にトラップされた生成物イオンと標準試料のイオンとをイオントラップから排出することで、前記飛行時間質量分析計において得られる検出データを収集し、測定された標準試料のイオンを基に前記生成物イオンの精密質量の補正を行うことを特徴とするイオントラップ/飛行時間型質量分析計。
IPC (4件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 ,  G01N30/72 ,  H01J49/42
FI (5件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 X ,  G01N30/72 C ,  H01J49/42
Fターム (4件)：
5C038JJ02 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ11
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (5件)
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