特許
J-GLOBAL ID:200903002237338330
試料保持方法及び露光装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
飯塚 雄二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-289305
公開番号(公開出願番号):特開平10-116886
出願日: 1996年10月11日
公開日(公表日): 1998年05月06日
要約:
【要約】【課題】平板上の試料を試料台に対して良好に保持すること。【解決手段】試料(3)を試料台(30,32)に対して静電吸着すると同時に、真空吸着する。
請求項(抜粋):
少なくとも一次元方向に移動可能な試料台上に平板状の試料を保持する試料保持方法において、前記試料を前記試料台に対して静電吸着するとともに、前記試料を前記試料台に対して真空吸着することを特徴とする試料保持方法。
IPC (3件):
H01L 21/68
, G03F 7/20 521
, H01L 21/027
FI (4件):
H01L 21/68 N
, G03F 7/20 521
, H01L 21/30 503 D
, H01L 21/30 518
引用特許:
審査官引用 (9件)
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特開平4-147642
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被処理材の固定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-320741
出願人:東芝機械株式会社
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冷却クランプ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-289535
出願人:日新電機株式会社
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ステージ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-153458
出願人:株式会社ニコン
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ウエハ搬送装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-113013
出願人:株式会社日立製作所, 日立東京エレクトロニクス株式会社
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測定用定盤及びその加工方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-250542
出願人:スズキ株式会社
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特開昭64-066604
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特開平4-147642
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特開昭64-066604
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