特許
J-GLOBAL ID：200903002704337050
電磁波発生源探査方法及びそれに用いる電流プローブ
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-271318
公開番号（公開出願番号）：特開2007-085741
出願日： 2005年09月20日
公開日（公表日）： 2007年04月05日
要約：
【課題】基板単体のEMI対策を完遂したとしても、基板を格納する筐体(フレームやシャーシ等)に実装した時点で、不要電磁放射のレベルが変化してしまい、筐体全体として新たに不要電磁波が発生してしまうという問題があった。【解決手段】回路基板や電子機器等と筐体の接合部に流れる電流を、実装動作状態において測定可能とする接合部電流プローブを提供すべく、円形又は矩形状の中心に穴があいた絶縁体と、鎖交磁束を電圧に変換する為のコイル状の導体と、周囲との電気的接触を防ぐ為の絶縁体と、導体の両端とケーブルを接続する引き出し部と、測定器へ接続する為のケーブルを有し、筐体実装状態を変化させない範囲で薄型化した事を特徴とする電流プローブ構造を提供する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
基板が実装された筐体の電磁波発生源探査方法であって、
前記基板と前記筐体とを接続する複数の接合部材を流れる電流を測定して探査することを特徴とする電磁波発生源探査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (11件)
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引用文献：
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