特許
J-GLOBAL ID:200903002784174407

光減衰器デバイス、放射システム、及び、それらの付属するリソグラフィ装置、及び、デバイス製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 稲葉 良幸 ,  大賀 眞司 ,  大貫 敏史
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-172173
公開番号(公開出願番号):特開2008-235941
出願日: 2008年07月01日
公開日(公表日): 2008年10月02日
要約:
【課題】ビームの中心線に対して対称であり、ビームの中心部分に存在する1つ又は複数の光減衰器要素を提供すること。 【解決手段】光減衰器デバイスは少なくとも1つの光減衰器要素を使用して平均強度より高い強度を有する放射のビームの一部を取り除くように動作する。デバイスは、放射システム及び/又はリソグラフィ装置、特に走査型リソグラフィ装置における応用例を有し、光減衰器要素は、ビームの中心部分に、例えば走査方向に垂直に設けられている。 【選択図】図2
請求項(抜粋):
リソグラフィ装置における使用のための放射のビームの均一性を改善するための光減衰器デバイスであって、前記放射のビームから前記放射の少なくとも一部を取り除く少なくとも1つの光減衰器要素を含む光減衰器デバイス。
IPC (1件):
H01L 21/027
FI (2件):
H01L21/30 516D ,  H01L21/30 515D
Fターム (2件):
5F046CB08 ,  5F046DA02
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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