特許
J-GLOBAL ID：200903003963223794
放射線診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
岡▲崎▼ 信太郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-162203
公開番号（公開出願番号）：特開平11-347023
出願日： 1998年06月10日
公開日（公表日）： 1999年12月21日
要約：
【要約】【課題】 広範囲な領域にわたって、歪みが少なく、分解能の高い3次元画像を短時間で得ることができる放射線診断装置の提供すること。【解決手段】 放射線出力手段10は、X線を放出するX線発生手段10Aと、X線発生手段10Aが放出したX線を被検体50に対して出力する範囲を限定するX線出力限定手段14と、を備え、放射線検出手段20は、X線を可視光に変換するX線/光変換素子21と、X線/光変換素子21からの光信号を電気信号に変換するアモルファス・シリコンからなる2次元半導体センサ22であり、X線/光変換素子21と2次元半導体センサ22が接している。
請求項（抜粋）：
被検体に対して放射線を出力する放射線出力手段と、放射線出力手段に対して被検体を介して対向する位置に設けられ、被検体を透過した放射線の強度分布を検出する放射線検出手段と、放射線出力手段と放射線検出手段を一体的に被検体の周りに周回させる回転駆動手段と、放射線検出手段からの複数の方向に関する放射線の強度分布に基づいて被検体についての3次元画像を形成する情報処理手段と、を有し、放射線出力手段は、X線を放出するX線発生手段と、X線発生手段が放出したX線を被検体に対して出力する範囲を限定するX線出力限定手段と、を備え、放射線検出手段は、X線を可視光に変換するX線/光変換素子と、X線/光変換素子からの光信号を電気信号に変換するアモルファス・シリコンからなる2次元半導体センサであり、X線/光変換素子と2次元半導体センサが接していることを特徴とする放射線診断装置。
IPC (2件)：
A61B 6/00 300
, G01T 1/20
A61B 6/00 300 S
, G01T 1/20 G
