特許
J-GLOBAL ID：200903004551482805

電子回路用部品の外観検査方法及び外観検査装置並びに電子回路用部品の製造方法。

発明者：
恒川 智好

恒川 智好 について

, 
中村 晋也

中村 晋也 について


出願人/特許権者：
日本特殊陶業株式会社

日本特殊陶業株式会社 について


代理人 (1件)： 菅原 正倫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-286053
公開番号（公開出願番号）：特開2004-125434
出願日： 2002年09月30日
公開日（公表日）： 2004年04月22日
要約：
【課題】電子回路用部品の外観検査において、カラー画像処理を用いて処理精度を高める。【解決手段】カラー受光部2で撮像された電子回路用部品のカラー画像情報を表す検知出力の信号を基に、検査面内の各位置における3次元色空間座標系の3つの座標成分よりなる検査面色情報を画像処理装置11で生成し、検査面色情報を表す第一検査面データおよび該第一検査面データとは異なる3次元色空間座標系に座標変換された第二検査面データのうち少なくとも一方における少なくとも1つの座標成分からなる第一画像処理データを作成するとともに、該第一画像処理データのそれぞれ座標成分の大きさを、予め設定された良品基準色情報を基づく良品基準色データを用いて補正処理し、その処理結果を補正画像処理データとしてメモリ14に保管し、この補正画像処理データと良品基準色データとを用いて画像処理を行い検査面の不良領域の選定を行なう。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
電子回路用部品の外観検査方法であって、 電子回路用部品の検査面からの検査光をカラー受光部にて受光し、該カラー受光部の検知出力に基づいて前記検査面内の各位置における3次元色空間座標系の3つの座標成分よりなる検査面色情報を生成する検査面色情報生成工程と、 該検査面色情報の3つの座標成分を表す第一検査面データおよび該第一検査面データを自身の3次元色空間座標系とは異なる3次元色空間座標系に座標変換させた第二検査面データのうち少なくとも一方における少なくとも1つの座標成分からなる画像処理データを作成する画像処理データ作成工程と、 該画像処理データと、予め設定された良品基準色情報のうち前記画像処理データに対応する良品基準色データとを用いた画像処理にて不良領域を選定する不良領域選定工程とを含むとともに、 前記不良領域選定工程における前記画像処理に用いる前記画像処理データは、前記良品基準色データのそれぞれ座標成分を表すデータの大きさに合わせて、該座標成分に対応する前記画像処理データのそれぞれ座標成分の大きさが補正処理されたデータである補正画像処理データとされることを特徴とする電子回路用部品の外観検査方法。
IPC (2件)：
G01N21/956 ,  G06T1/00
FI (4件)：
G01N21/956 B ,  G06T1/00 305A ,  G06T1/00 305D ,  G06T1/00 510
Fターム (37件)：
2G051AA61 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051DA07 ,  2G051EA08 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED01 ,  2G051ED03 ,  2G051ED07 ,  2G051FA10 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE17 ,  5B057CE18 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC25 ,  5B057DC33 ,  5B057DC39
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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