臨床検査システム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：小川勝男 , 田中恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-196247
公開番号（公開出願番号）：特開2006-017600
出願日： 2004年07月02日
公開日（公表日）： 2006年01月19日
要約：

【課題】分析装置で得られた測定データを精度管理検体の蓄積データをもとにチェックすることができると共に、より質の高い・価値ある検査情報を診療元へ報告を行い、無駄を省いた効率的な臨床検査システムを提供する。【解決手段】分析装置の精度管理単独チェックでは分からない異常を、分析装置から精度管理検体を管理することにより、精度管理検体の蓄積データから精度管理基準値より管理SD範囲外となる予測を予想直線から求め、分析装置が異常になる前にユーザへ警告を通知することにより、分析装置を安定な状態に保ち、同時に患者検体データの測定精度とデータの信頼性を保証する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

分析装置での測定精度の管理に使用する精度管理検体の測定結果を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された精度管理検体の測定データに基づき回帰曲線を算出する精度管理検体回帰曲線算出手段と、該回帰曲線算出手段にて算出された回帰曲線に基づき、予め設定した管理範囲を外れる検体を予測する予測手段と、を備えたことを特徴とする臨床検査システム。

IPC (1件)：

G01N 35/00

FI (2件)：

G01N35/00 F , G01N35/00 A

Fターム (3件)：

2G058GD01 , 2G058GE09 , 2G058HA04

引用特許：

出願人引用 (9件)

自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-169499 出願人：株式会社日立製作所
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-059375 出願人：株式会社日立製作所
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-264965 出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立サイエンスシステムズ

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審査官引用 (3件)

自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-059375 出願人：株式会社日立製作所
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-264965 出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立サイエンスシステムズ
自動化学分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-261792 出願人：株式会社島津製作所

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