特許
J-GLOBAL ID:200903007231745866

発光ダイオードの構造及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 竹本 松司 ,  杉山 秀雄 ,  湯田 浩一 ,  魚住 高博 ,  手島 直彦 ,  白石 光男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-283935
公開番号(公開出願番号):特開2009-111266
出願日: 2007年10月31日
公開日(公表日): 2009年05月21日
要約:
【課題】外部量子効率と内部量子効率を共に高めた発光ダイオード構造を提供する。【解決手段】基板を溶液内に置いて反応させ、その表面に化学反応層を形成し、その後、基板をエッチングし、基板表面に複数の凹部と上方に化学反応層を具えた凸部を形成し、更に該化学反応層を除去し、凹部と凸部を具えた不規則幾何形状を該基板表面に形成し、最後に該基板表面に半導体発光構造をエピタキシャル成長させる。【選択図】図5
請求項(抜粋):
発光ダイオードの製造方法において、 基板(100)を提供する工程、 該基板(100)を第1溶液内に置き反応させて、その表面に化学反応層(110)を形成する工程、 該化学反応層(110)をマスクとして、該基板(100)に対して選択性エッチングを行い該基板(100)の表面の該化学反応層(110)のない部分の複数の凹部(120)と、上方に該化学反応層(110)を有する複数の凸部(130)を形成する工程、 更に該基板(100)を第2溶液内に置いてエッチングし、該化学反応層(110)を除去し、これら凹部(120)と凸部(130)の不規則幾何形状を該基板(100)表面に形成する工程、 その後、該基板(100)の表面をクリーニングした後、該基板(100)の表面に半導体発光構造(200)を形成し、且つ横方向エピタキシャル成長技術を利用して該半導体発光構造(200)に該凹部(120)を充填させて孔を無くす工程、 を包含したことを特徴とする、発光ダイオードの製造方法。
IPC (1件):
H01L 33/00
FI (1件):
H01L33/00 C
Fターム (12件):
5F041AA03 ,  5F041AA40 ,  5F041AA42 ,  5F041CA04 ,  5F041CA12 ,  5F041CA40 ,  5F041CA46 ,  5F041CA74 ,  5F041CA75 ,  5F041CA91 ,  5F041CB15 ,  5F041CB36
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 米国特許第6,870,193号明細書
審査官引用 (4件)
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