特許
J-GLOBAL ID：200903007718270596
画像のエッジ検出方法、検査装置及び記録媒体
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-043698
公開番号（公開出願番号）：特開2000-241117
出願日： 1999年02月22日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：
【要約】【課題】 従来の検査装置では、エッジ検出が適切に行なわれない場合にはその都度感度設定を変更して再度検査対象物の撮像を行なう必要が有り、またいずれのエッジを検査対象とするかをオペレータが指定する必要が有り、初心者には難しい作業であった。【解決手段】 ワーク1を撮像した画像データを記憶するメモリ5と、メモリ5に記憶されている画像データを、X軸方向とこれに直交するY軸方向とに画素がそれぞれ配列された表示画面8S上に表示するモニタ8と、表示画面8S上に4辺がX(またはY)軸方向に沿ったウィンドウWを設定するコントロールパネル10と、設定されたウィンドウW内でY(またはX)軸方向に配列された各画素列に関して各画素の明度値を積算し、積算結果のX(またはY)軸方向への微分演算結果の絶対値が閾値以上である部分の極大値に対応するX(またはY)軸方向の位置をエッジとして検出するエッジ検出部41とを備える。
請求項（抜粋）：
検査対象物を撮像した画像データを記憶手段に記憶させておく第1のステップと、前記記憶手段に記憶されている画像データをX軸方向とこれに直交するY軸方向とに画素がそれぞれ配列された表示画面上に表示する第2のステップと、前記表示画面上に4辺がX軸方向またはY軸方向に沿って検出範囲を設定する第3のステップと、設定された検出範囲においてY(またはX)軸方向に配列された各画素列に関して各画素の明度値に関する値を積算する第4のステップと、明度値に関する値を積算した結果のX(またはY)軸方向への微分演算結果の絶対値が閾値以上である部分の極大値に対応するX(またはY)軸方向の位置をエッジとして検出する第5のステップとを含むことを特徴とする画像のエッジ検出方法。
IPC (6件)：
G01B 11/00
, G01B 11/02
, G01B 11/08
, G01B 11/12
, G01B 11/14
, G01B 11/24
G01B 11/00 H
, G01B 11/02 Z
, G01B 11/08 Z
, G01B 11/12 Z
, G01B 11/14 Z
, G01B 11/24 K
2F065AA03
, 2F065AA07
, 2F065AA12
, 2F065AA22
, 2F065AA26
, 2F065AA27
, 2F065FF04
, 2F065FF26
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065MM03
, 2F065PP15
, 2F065QQ04
, 2F065QQ08
, 2F065QQ13
, 2F065QQ14
, 2F065QQ24
, 2F065QQ29
, 2F065QQ32
, 2F065QQ36
, 2F065SS02
, 2F065SS04
, 2F065SS13
