特許
J-GLOBAL ID:200903009208898526
半導体素子及び撮像装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
荒船 博司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-006192
公開番号(公開出願番号):特開2003-209256
出願日: 2002年01月15日
公開日(公表日): 2003年07月25日
要約:
【要約】【課題】 課題は、半導体素子を良好な特性が得られるようにし、撮像装置の歩留まりの低下を抑えることである。【解決手段】 DG-TFT10は、互いに対向したゲート電極12及びゲート電極22と、ゲート電極12に対向した半導体膜13と、半導体膜13に重なったチャネル保護膜14,15と、チャネル保護膜14及び半導体膜13に重なった不純物半導体膜16と、チャネル保護膜14、チャネル保護膜15及び半導体膜13に重なった不純物半導体膜18と、チャネル保護膜15及び半導体膜13に重なった不純物半導体膜17と、半導体膜13と重なった部分16bのみで不純物半導体膜16に重なったソース電極19と、半導体膜13と重なった部分18cのみで不純物半導体膜18に重なったドレイン電極21と、半導体13と重なっている部分17bのみで不純物半導体膜17に重なったソース電極20と、を備える。
請求項(抜粋):
半導体膜と、ゲート絶縁膜を介して前記半導体膜に対向配置されたゲート電極と、前記半導体膜上に形成され、複数の角部を有する保護膜と、前記保護膜の前記複数の角部を全て覆うように重なっているソース、ドレイン電極と、を備えることを特徴とする半導体素子。
IPC (2件):
H01L 29/786
, H01L 27/146
FI (4件):
H01L 29/78 616 T
, H01L 27/14 C
, H01L 29/78 617 N
, H01L 29/78 622
Fターム (36件):
4M118AA06
, 4M118AA10
, 4M118AB10
, 4M118BA05
, 4M118CA11
, 4M118CA32
, 4M118CA34
, 4M118CB14
, 4M118DD12
, 4M118FB03
, 4M118FB09
, 4M118FB13
, 4M118GA09
, 4M118GB04
, 4M118GB09
, 4M118GB15
, 5F110AA30
, 5F110BB01
, 5F110BB10
, 5F110EE07
, 5F110EE30
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110GG02
, 5F110GG15
, 5F110GG35
, 5F110HK03
, 5F110HK04
, 5F110HK16
, 5F110HM02
, 5F110HM04
, 5F110HM12
, 5F110NN02
, 5F110NN12
, 5F110NN23
, 5F110NN24
引用特許:
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