特許
J-GLOBAL ID：200903009211348413

質量分析器におけるイオン集団の制御

発明者：
ホーニング, スティーバン

ホーニング, スティーバン について

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マレック, ロバート

マレック, ロバート について

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サイカ, ジョン イー.

サイカ, ジョン イー. について

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ヴァイヒハウス, アンドレアス

ヴァイヒハウス, アンドレアス について


出願人/特許権者：
サーモ フィニガン エルエルシー

サーモ フィニガン エルエルシー について


代理人 (3件)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-502949
公開番号（公開出願番号）：特表2006-517723
出願日： 2004年01月23日
公開日（公表日）： 2006年07月27日
要約：
質量分析計で分析するイオン集団の制御方法および装置。イオン蓄積速度と所定の所望のイオン集団との関数として決定される注入時間間隔のあいだ、イオンを蓄積する。蓄積速度は、イオン源からイオンアキュムレータへのイオンの流速を表す。蓄積されたイオン由来のイオンは、分析のために質量分析計に導入される。本発明は、所定のイオン集団を蓄積させ、蓄積したイオン集団を質量分析計の分析セルまたは一部に移送することにより、質量分析計内でイオン集団を制御する方法および装置を提供する。
請求項（抜粋）：
質量分析器を作動させるための方法であって、該方法は、以下: a)イオン源から質量分析器に延びるイオン路に沿ってイオンサンプルを導入する工程; b)サンプリング時間間隔の間に該イオンサンプル由来のイオンを蓄積する工程; c)該イオンサンプル由来のイオンを検出する工程; d)該検出する工程および該サンプリング時間間隔に基づいて注入時間間隔を決定する工程であって、該注入時間間隔は、所定のイオン集団を得るための時間間隔を表す、工程; e)該注入時間間隔に対応する時間の間イオンを蓄積する工程;および f)該蓄積イオンに由来するイオンを該質量分析器に導入する工程 を包含する、方法。
IPC (5件)：
H01J 49/26 ,  H01J 49/10 ,  H01J 49/06 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/42
FI (6件)：
H01J49/26 ,  H01J49/10 ,  H01J49/06 ,  G01N27/62 E ,  G01N27/62 L ,  H01J49/42
Fターム (21件)：
2G041CA01 ,  2G041DA02 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA13 ,  2G041DA16 ,  2G041DA18 ,  2G041FA25 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA08 ,  2G041KA01 ,  5C038FF13 ,  5C038GG01 ,  5C038GG07 ,  5C038GG08 ,  5C038GG13 ,  5C038HH02 ,  5C038HH26 ,  5C038HH28 ,  5C038JJ06
引用特許：
審査官引用 (11件)
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