特許
J-GLOBAL ID：200903009740264713

飛行時間型質量分析計のスペクトル処理方法

発明者：
貫名 義裕

貫名 義裕 について

, 
岩永 光恭

岩永 光恭 について


出願人/特許権者：
日本電子株式会社

日本電子株式会社 について


代理人 (1件)： 阿部 龍吉 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-203680
公開番号（公開出願番号）：特開2000-036285
出願日： 1998年07月17日
公開日（公表日）： 2000年02月02日
要約：
【要約】【課題】 高圧パルス回路の応答や飛行時間型質量分析部の収差、および検出系の応答特性等に影響されないマススペクトルを求められるようにする。【解決手段】 n個のパルス列に基づき観測されるサンプルの多重マススペクトルから単発マススペクトルを求める飛行時間型質量分析計のスペクトル処理方法であって、単発パルスに基づき観測される単発マススペクトルとn個のパルス列に基づき観測される多重マススペクトルの双方のデータをフーリエ変換して予め装置関数を求めて保存しておき、次に、n個のパルス列に基づき観測されるサンプルの多重マススペクトルに対し、フーリエ変換して前記装置関数との演算を行い逆フーリエ変換によりサンプルの加算マススペクトルを求める。
請求項（抜粋）：
イオン溜からイオン押し出しプレートに高圧パルス電圧を印加してn個のパルス列に基づき観測されるサンプルの多重マススペクトルから単発マススペクトルを求める飛行時間型質量分析計のスペクトル処理方法であって、標準試料を用い単発パルスに基づき観測される単発マススペクトルとn個のパルス列に基づき観測される多重マススペクトルの双方のデータをフーリエ変換して予め装置関数を求めて保存しておき、次に、n個のパルス列に基づき観測されるサンプルの多重マススペクトルに対し、フーリエ変換して前記装置関数との演算を行い逆フーリエ変換によりサンプルの加算マススペクトルを求めることを特徴とする飛行時間型質量分析計のスペクトル処理方法。
IPC (2件)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62
FI (2件)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62 K
引用特許：
審査官引用 (4件)
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