特許
J-GLOBAL ID：200903010052676038

診断機能付き論理集積回路

発明者：
池谷 豊人

池谷 豊人 について

, 
川島 正敏

川島 正敏 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 大日方 富雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-308473
公開番号（公開出願番号）：特開2000-131394
出願日： 1998年10月29日
公開日（公表日）： 2000年05月12日
要約：
【要約】【課題】 診断回路を内蔵した論理集積回路において、回路規模を増大させることなユーザースキャンのような各種スキャンテストを実行できるようにする。【解決手段】 バウンダリスキャンテスト制御回路(20)とBIST方式のテストのためのスキャンパス(SP1〜SPm)を利用して、ユーザーモードで内部論理回路内の任意のフリップフロップ(FF11〜FFmn)に保持されているデータを読み出せるように構成した。
請求項（抜粋）：
内部回路内に設けられたスキャンパスを用いて第1の動作モードで動作して上記内部回路の診断を行なう第1の診断回路と、外部とのインタフェース部に設けられたスキャンパスを用いて第2の動作モードで動作して外部との接続の診断を行なう第2の診断回路とを備えた論理集積回路であって、上記第2の診断回路は上記第1の診断回路を制御して上記内部回路内の任意のフリップフロップ回路の保持データを読出し可能に構成されていることを特徴とする診断機能付き論理集積回路。
IPC (3件)：
G01R 31/28 ,  G06F 11/22 360 ,  H03K 19/00
FI (3件)：
G01R 31/28 G ,  G06F 11/22 360 P ,  H03K 19/00 B
Fターム (18件)：
2G032AA01 ,  2G032AC10 ,  2G032AD05 ,  2G032AE07 ,  2G032AG05 ,  2G032AK16 ,  2G032AK19 ,  5B048AA20 ,  5B048BB05 ,  5B048CC18 ,  5B048DD06 ,  5B048DD10 ,  5J056AA00 ,  5J056BB59 ,  5J056BB60 ,  5J056CC00 ,  5J056CC18 ,  5J056FF01
引用特許：
審査官引用 (4件)
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