特許
J-GLOBAL ID：200903010705820377

光画像計測装置

発明者：
チャン キンプイ

チャン キンプイ について

, 
福間 康文

福間 康文 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-204507
公開番号（公開出願番号）：特開2009-041946
出願日： 2007年08月06日
公開日（公表日）： 2009年02月26日
要約：
【課題】被測定物体の深部組織の微細構造を画像化する。【解決手段】光画像計測装置1は、光源2、光ファイババンドル5、反射部6、参照ミラー9、ビームスプリッタ12を含む干渉光生成手段により、低コヒーレンス光を信号光と参照光に分割し、被測定物体5000を経由した信号光と参照ミラー9を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する。2次元光センサアレイ14、15は、干渉光を検出する。コンピュータ16は、この検出結果を基に被測定物体5000の画像を形成する。光ファイババンドル5を被測定物体5000内に挿入して計測を行うことで、被測定物体5000の深部組織の断層画像が得られる。更に、光画像計測装置1は、OCT技術を用いて計測を行うので、被測定物体5000の深部組織の高解像度の画像を形成できる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、 前記干渉光を検出する検出手段と、 前記干渉光の検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、 を有する光画像計測装置であって、 前記干渉光生成手段は、低コヒーレンス光から分割された信号光を一端から出射し、前記被測定物体を経由して前記一端に入射された該信号光を導光する導光手段を含み、前記導光された該信号光を参照光と重畳させて干渉光を生成する、 ことを特徴とする光画像計測装置。
IPC (3件)：
G01N 21/17 ,  G01N 21/27 ,  A61B 10/00
FI (3件)：
G01N21/17 630 ,  G01N21/27 H ,  A61B10/00 E
Fターム (21件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (15件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM