特許
J-GLOBAL ID：200903012407310350

チップ型電子部品の特性測定装置

発明者：
田中 秀治

田中 秀治 について

, 
大久保 宏

大久保 宏 について


出願人/特許権者：
株式会社村田製作所

株式会社村田製作所 について


代理人 (1件)： 森下 武一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-361172
公開番号（公開出願番号）：特開2005-127752
出願日： 2003年10月21日
公開日（公表日）： 2005年05月19日
要約：
【課題】 チップ型電子部品の電気的特性を確実かつ高精度に測定できると共に、同時に複数種類の特性の測定を可能にする特性測定装置を得る。【解決手段】 両端部に外部電極61a,61bを有するチップ型の電子部品60を収容するための収容ユニット10と、下部プローブ22と、二つの測定端子32a,32bを備えた上部プローブ32とで構成された特性測定装置。収容ユニット10は、重ね合わされた絶縁性の底板11及び絶縁性の収容プレート15にて構成され、マトリクス状に配置された多数の収容孔16、該収容孔16に対応する貫通孔13及び共通電極12を有している。収容孔16に収容された電子部品60は外部電極61aが共通電極12と接触し、下部プローブ22が上昇して外部電極61aに接触し、かつ、上部プローブ32が下降して外部電極61bに接触する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
両端部に外部電極を有するチップ型の電子部品の電気的特性を測定する特性測定装置において、 前記電子部品をその外部電極が上下方向に位置する縦置きで収容するためのマトリクス状に配置された多数の収容孔を有する収容プレートと、 前記収容孔に収容された前記電子部品の下部外部電極と接触する共通電極を表面に配置し、かつ、収容孔に連通する貫通孔を有する絶縁性プレートと、 各収容孔に収容された前記電子部品の上部外部電極に接離可能な二つの測定端子を有する上部プローブと、 各収容孔に収容された前記電子部品の下部外部電極に前記貫通孔を通じて接離可能な下部プローブと、 前記共通電極、上部プローブ及び下部プローブを介して前記電子部品の電気的特性を測定する測定手段と、 を備えたことを特徴とする特性測定装置。
IPC (6件)：
G01R31/00 ,  G01R1/06 ,  G01R1/073 ,  G01R27/02 ,  G01R27/26 ,  H01G13/00
FI (7件)：
G01R31/00 ,  G01R1/06 E ,  G01R1/073 A ,  G01R27/02 R ,  G01R27/26 C ,  H01G13/00 361C ,  H01G13/00 361G
Fターム (27件)：
2G011AA01 ,  2G011AA22 ,  2G011AC14 ,  2G011AE22 ,  2G028AA01 ,  2G028AA02 ,  2G028BB06 ,  2G028CG03 ,  2G028CG07 ,  2G028HN09 ,  2G028HN10 ,  2G028HN11 ,  2G028JP04 ,  2G028LR02 ,  2G036AA03 ,  2G036AA04 ,  2G036AA27 ,  2G036AA28 ,  2G036BB01 ,  2G036BB02 ,  2G036BB22 ,  2G036CA09 ,  5E082AA01 ,  5E082AB03 ,  5E082BC40 ,  5E082MM36 ,  5E082MM37
引用特許：
出願人引用 (10件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM