特許
J-GLOBAL ID：200903012572156072

コレステリック液晶層の検査方法、その検査装置及びコレステリック液晶層の製造方法

発明者：
梅 谷 雅 規

梅 谷 雅 規 について


出願人/特許権者：
大日本印刷株式会社

大日本印刷株式会社 について


代理人 (7件)： 吉武 賢次 ,  永井 浩之 ,  岡田 淳平 ,  名塚 聡 ,  森 秀行 ,  勝沼 宏仁 ,  鈴木 清弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-329511
公開番号（公開出願番号）：特開2004-163663
出願日： 2002年11月13日
公開日（公表日）： 2004年06月10日
要約：
【課題】コレステリック液晶層の欠陥を観察者の目視により簡易にかつ精密に検査することができる検査方法を提供する。【解決手段】検査装置10は、照明光Lを投射する照明光源11と、照明光源11から投射された照明光Lを透過させる第1の吸収型直線偏光層12及び第2の吸収型直線偏光層13とを備えている。照明光源11により第1の吸収型直線偏光層12側から照明光Lを投射すると、照明光Lは、第1の吸収型直線偏光層12、コレステリック液晶層20及び第2の吸収型直線偏光層13を順次通過する。検査対象となるコレステリック液晶層20に欠陥がある場合には、コレステリック液晶層20の平面のうち欠陥が存在する箇所で光の偏光状態に異常が生じるので、第2の吸収型直線偏光層13から出射した照明光Lに明暗の差(面内分布)が生じる。このため、コレステリック液晶層20の欠陥を観察者の目視により簡易にかつ精密に検査することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
コレステリック液晶層の欠陥を検査する検査方法において、 第1の吸収型直線偏光層と第2の吸収型直線偏光層との間に検査対象となるコレステリック液晶層を配置する第1の工程と、 前記第1の吸収型直線偏光層側から照明光を投射し、前記第1の吸収型直線偏光層、前記コレステリック液晶層及び前記第2の吸収型直線偏光層の順で通過した照明光を観察する第2の工程とを含むことを特徴とする、コレステリック液晶層の検査方法。
IPC (3件)：
G02F1/13 ,  G02B5/30 ,  G02F1/1333
FI (3件)：
G02F1/13 101 ,  G02B5/30 ,  G02F1/1333
Fターム (22件)：
2H049BA02 ,  2H049BA05 ,  2H049BB03 ,  2H049BC22 ,  2H088FA11 ,  2H088FA30 ,  2H088GA03 ,  2H088GA06 ,  2H088HA18 ,  2H088HA28 ,  2H088KA17 ,  2H088KA18 ,  2H088LA09 ,  2H088MA20 ,  2H089HA02 ,  2H089JA01 ,  2H089KA02 ,  2H089NA21 ,  2H089NA29 ,  2H089NA60 ,  2H089QA12 ,  2H089QA16
引用特許：
審査官引用 (6件)
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