特許
J-GLOBAL ID:200903012617218864
X線検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
中村 雅典
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-165918
公開番号(公開出願番号):特開2006-337340
出願日: 2005年06月06日
公開日(公表日): 2006年12月14日
要約:
【課題】 コンベアを容易に引き出すことができ、清掃性及びメンテナンス性に優れたX線検査装置を提供する。【解決手段】 本体フレーム(2)と、搬送経路(R)の側方へのX線の漏洩を防止するX線漏洩防止カバー(3)と、それを回動支持する回転軸(21)と、を備え、X線漏洩防止カバー(3)及び回転軸(21)の最下端部を、コンベア(41)を検査領域(F)外へ移動する移動手段(43)を有する搬送機構(4)の最上端部よりも上方に位置させたことを特徴とする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
物品を搬送機構にて搬送し、搬送経路中に設けられる検査領域にてX線源からX線を照射し、前記検査領域を通過する物品を透過したX線をX線検出器にて検出し、前記X線検査器で検出したX線を画像処理するX線検査装置であって、
本体フレームと、
前記搬送経路の側方へのX線の漏洩を防止するX線漏洩防止カバーと、
前記X線漏洩防止カバーを回動開閉させるように前記本体フレームに垂設された回転軸と、を備え、
前記X線検出器は、前記搬送方向と略直交するように延設されて、その一端を前記本体フレームに片持支持されており、
前記搬送機構は、コンベアと、該コンベアの側部を片持支持する片持ちフレームと、前記コンベアを前記検査領域外へ移動する移動手段と、を有し、
前記X線漏洩防止カバー及び前記回転軸の最下端部が、前記搬送機構の最上端部よりも上方に位置することを特徴とするX線検査装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (9件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001HA13
, 2G001KA03
, 2G001PA11
, 2G001SA01
, 2G001SA04
, 2G001SA14
引用特許:
出願人引用 (3件)
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X線異物検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-349000
出願人:株式会社島津製作所
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異物検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-057715
出願人:東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
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X線異物検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-266525
出願人:株式会社イシダ
審査官引用 (6件)
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放射線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-309253
出願人:東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
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X線異物検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-349000
出願人:株式会社島津製作所
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X線異物検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-316555
出願人:株式会社島津製作所
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X線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-027667
出願人:株式会社イシダ
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物品検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-220336
出願人:アンリツ産機システム株式会社
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X線異物検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-222159
出願人:アンリツ産機システム株式会社
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