半導体装置の内部クロック発生回路及び内部クロック発生方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大塚康徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-323386
公開番号（公開出願番号）：特開平10-240372
出願日： 1997年11月25日
公開日（公表日）： 1998年09月11日
要約：

【要約】【課題】半導体装置の内部クロック発生回路及び内部クロック発生方法を提供する。【解決手段】クロックバッファと、内部クロック発生部と、チップ選択バッファと、内部クロック制御部とを具備する。前記クロックバッファは外部クロック信号を入力として前記外部クロック信号の電圧レベルを変換する。前記内部クロック発生部は前記クロックバッファの出力を入力として制御信号により制御され内部クロック信号を発生する。前記チップ選択バッファはイネーブル時に半導体装置が活性化されるチップ選択信号を入力とし前記チップ選択信号の電圧レベルを変換する。前記内部クロック発生部は前記チップ選択バッファの出力を入力として前記制御信号を発生する。前記内部クロック信号は前記制御信号がディスエーブルになるとディスエーブルになり、前記制御信号がイネーブルになると前記外部クロック信号がイネーブルの時だけイネーブルになる。

請求項（抜粋）：

外部クロック信号を入力とし、前記外部クロック信号の電圧レベルを変換するクロックバッファと、前記クロックバッファの出力を入力とし、制御信号により制御され内部クロック信号を発生する内部クロック発生部と、イネーブル時に半導体装置が活性化されるチップ選択信号を入力とし、前記チップ選択信号の電圧レベルを変換するチップ選択バッファと、前記チップ選択バッファの出力を入力として、前記制御信号を発生する内部クロック制御部とを具備し、前記内部クロック信号は、前記制御信号がディスエーブル状態になった場合はディスエーブル状態になり、前記制御信号がイネーブル状態になった場合は前記外部クロック信号がイネーブル状態になった場合にのみイネーブル状態になることを特徴とする半導体装置の内部クロック発生回路。

IPC (4件)：

G06F 1/04 301 , G06F 1/10 , H01L 21/8238 , H01L 27/092

FI (3件)：

G06F 1/04 301 B , G06F 1/04 330 Z , H01L 27/08 321 G

引用特許：

審査官引用 (5件)

半導体集積回路装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-194229 出願人：株式会社日立製作所
半導体記憶装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-314463 出願人：株式会社日立製作所, 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリング株式会社
半導体装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-049569 出願人：富士通株式会社

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