特許
J-GLOBAL ID:200903014180278210

半導体光集積素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-034918
公開番号(公開出願番号):特開平8-236845
出願日: 1995年02月23日
公開日(公表日): 1996年09月13日
要約:
【要約】【目的】 半導体短光パルス発生装置にチャープ補償器を集積化した半導体光集積素子を提供することにある。【構成】 半導体短光パルス発生装置に誘電体多層膜鏡チャープ補償器15が集積化されている。その半導体短光パルス発生装置は、結晶面方位が(001)から20度〜90度の範囲で傾いた基板上1に形成され、それらの活性層6は、p型変調ドープされた圧縮歪み量子井戸層によって構成される。【効果】 チャープ補償器が半導体短光パルス発生装置に集積化されているため、装置の安定化、小型化、低コスト化が実現できる。また、本発明の半導体光集積素子が面型の場合、2次元集積化が容易であり、並列大容量光通信システム用の短光パルス発生光源に好適である。
請求項(抜粋):
半導体短光パルス発生装置に誘電体多層膜から成るチャープ補償器を集積化していることを特徴とする半導体光集積素子。
IPC (5件):
H01S 3/103 ,  G02B 6/122 ,  H01S 3/098 ,  H01S 3/133 ,  H01S 3/18
FI (5件):
H01S 3/103 ,  H01S 3/098 ,  H01S 3/133 ,  H01S 3/18 ,  G02B 6/12 B
引用特許:
審査官引用 (5件)
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引用文献:
審査官引用 (1件)
  • 超高速光エレクトロニクス, 199106, 266〜270頁

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