特許
J-GLOBAL ID:200903014493564702
複合型微粒子分析装置及び複合型微粒子分析装置の組合体
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
吉武 賢次
, 永井 浩之
, 岡田 淳平
, 勝沼 宏仁
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-036515
公開番号(公開出願番号):特開2007-218609
出願日: 2006年02月14日
公開日(公表日): 2007年08月30日
要約:
【課題】気相中に浮遊する微粒子の粒径分布を2以上の粒径範囲に分けて同時に測定することができる複合型微粒子分析装置を提供する。【解決手段】本複合型微粒子分析装置100は、内部を二分する中心壁15を有する筐体10と、筐体10との間に第一測定領域13aを形成する第一中心電極部19aと、第二測定領域13bを形成する第二中心電極部19bとを備えている。第一中心電極部19aの下方には第一微粒子個数濃度計数器29aが、第二中心電極部19bの下方には第二微粒子個数濃度計数器29bが設けられている。中心壁15には上方から順に、シースガス導入路45とエアロゾル導入路54と、余剰ガスを筐体10外部へ排出するエクセスガス排出路67と、各微粒子個数濃度計数器を通過したサンプルガスをエクセスガス排出路67へと導くサンプルガス排出路72とが設けられている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
気相中に浮遊する帯電微粒子を含有する微粒子を分析する複合型微粒子分析装置において、
外部から気密に保たれ、アースに接続されるとともに、前面から背面にかけて延在し内部を二分する中心壁を有する筐体と、
筐体との間に第一測定領域を形成し、所望の大きさの帯電微粒子を通過させる第一分級ガス導出スリットを有する第一中心電極部と、
第一中心電極部と並列に配置され、筐体との間に第二測定領域を形成し、所望の大きさの帯電微粒子を通過させるとともに、第一分級ガス導出スリットと分級長の異なる第二分級ガス導出スリットを有する第二中心電極部と、
第一中心電極部に接続され、第一中心電極部と筐体との間に電圧を印加する第一電源と、
第二中心電極部に接続され、第二中心電極部と筐体との間に電圧を印加する第二電源と、
第一中心電極部の下方に配置されるとともに、第一中心電極部の第一分級ガス導出スリットを通過した帯電微粒子の個数濃度を測定する第一微粒子個数濃度計数器と、
第二中心電極部の下方に配置されるとともに、第二中心電極部の第二分級ガス導出スリットを通過した帯電微粒子の個数濃度を測定する第二微粒子個数濃度計数器と、
中心壁の前面から背面まで貫通して設けられるとともに、第一測定領域及び第二測定領域へシースガスを導入するシースガス導入路と、
シースガス導入路の下方であって、中心壁の前面から背面まで貫通して設けられるとともに、第一測定領域及び第二測定領域へ帯電微粒子を含む微粒子を導入するエアロゾル導入路と、
エアロゾル導入路の下方であって、中心壁の前面から背面まで貫通して設けられるとともに、第一測定領域及び第二測定領域からの余剰ガスを筐体外部へ排出するエクセスガス排出路と、
エクセスガス排出路の下部に上下方向に延びて連結されるとともに、第一微粒子個数濃度計数器及び第二微粒子個数濃度計数器を通過したサンプルガスをエクセスガス排出路へと導くサンプルガス排出路と、
を備えたことを特徴とする複合型微粒子分析装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N15/02 F
, G01N27/60 C
Fターム (2件):
引用特許:
出願人引用 (5件)
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微分型電気移動度測定器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-067421
出願人:理化学研究所
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微分型電気移動度測定器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-213061
出願人:理化学研究所
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超微粒子分級装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-087864
出願人:松下技研株式会社, 工業技術院長
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微粒子分級装置及びその方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-054105
出願人:労働省産業医学総合研究所長
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微粒子分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-025586
出願人:ワイコフ科学株式会社
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