特許
J-GLOBAL ID:200903016384960102
半導体装置の製造方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴江 武彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-231283
公開番号(公開出願番号):特開平7-086216
出願日: 1993年09月17日
公開日(公表日): 1995年03月31日
要約:
【要約】【目的】本発明は、研磨後の研磨粒子の残存量を極力少なくし、ディッシング等を起こすことなく研磨することができ、良好に膜の平坦化、埋め込み金属配線形成等を行うことができる半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。【構成】有機高分子化合物からなる球形粒子または少なくとも炭素を主成分とする球形粒子19を研磨粒子として用いて被加工膜を研磨する工程を具備することを特徴としている。特に、研磨後に前記研磨粒子19を燃焼させることにより除去することが好ましい。
請求項(抜粋):
有機高分子化合物からなる粒子または少なくとも炭素を主成分とする粒子を研磨粒子として用いて被加工膜を研磨する工程を具備することを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (3件):
H01L 21/304 321
, H01L 21/304
, B24B 1/00
引用特許:
審査官引用 (6件)
-
結晶性薄膜の研磨方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-349600
出願人:イビデン株式会社
-
特開昭63-160338
-
特開昭63-160341
全件表示
前のページに戻る