特許
J-GLOBAL ID:200903017276091366

露光処理装置及び露光処理方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-294313
公開番号(公開出願番号):特開2002-110508
出願日: 2000年09月27日
公開日(公表日): 2002年04月12日
要約:
【要約】【課題】 荷電ビーム露光における生産性を向上させる。【解決手段】 荷電ビームによって露光を行うための露光処理装置であって、部分一括露光用アパーチャ部5に形成された開口パターン6に関する情報を取得するパターン情報取得手段8と、開口パターンと比較される比較パターン27に関する情報を保持するパターン情報保持手段25と、パターン情報取得手段によって取得された開口パターンに関する情報と、パターン情報保持手段に保持された比較パターンに関する情報との比較結果に基づいて、開口パターンの形状を識別するパターン識別手段26とを備える。
請求項(抜粋):
荷電ビームによって露光を行うための露光処理装置であって、部分一括露光用アパーチャ部に形成された開口パターンに関する情報を取得するパターン情報取得手段と、前記開口パターンと比較される比較パターンに関する情報を保持するパターン情報保持手段と、前記パターン情報取得手段によって取得された開口パターンに関する情報と、前記パターン情報保持手段に保持された比較パターンに関する情報との比較結果に基づいて、前記開口パターンの形状を識別するパターン識別手段と、を備えたことを特徴とする露光処理装置。
IPC (3件):
H01L 21/027 ,  G03F 7/20 504 ,  H01J 37/305
FI (3件):
G03F 7/20 504 ,  H01J 37/305 B ,  H01L 21/30 541 S
Fターム (8件):
2H097AA03 ,  2H097BA10 ,  2H097CA16 ,  2H097EA01 ,  2H097GB00 ,  5C034BB05 ,  5F056AA06 ,  5F056CB07
引用特許:
審査官引用 (6件)
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