特許
J-GLOBAL ID：200903017312697500
機器分析用データ管理システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-135633
公開番号（公開出願番号）：特開2006-313447
出願日： 2005年05月09日
公開日（公表日）： 2006年11月16日
要約：
【課題】 分析装置で取得される測定・分析データを複数のデータベース(DB)に分けて管理する構成において、何らかの障害によりデータを目的のDBに格納することができなかった場合、そのデータは一時DBに格納されるが、障害が解消された後にデータを所望のDBに格納させるためには、手動で復旧作業を行わねばならず、非常に煩雑であった。 【解決手段】 格納障害を検知する障害検知手段と、測定・分析データを一時データベースに格納する一時格納手段と、一時DBに保存される際に生成されるログに含まれる格納先情報を読み出す格納先特定手段と、該格納先情報に基づき予め指定されたDBに自動的に格納するデータ復旧手段とを備えたシステム構成とする。この構成により、従来は非常に時間が掛かっており、人為的ミスの可能性もあった復旧作業を自動化することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
機器分析により取得された測定データやこの測定データから派生する各種データを含む測定・分析データを、特定のアプリケーションソフトウエア上でデータベース化して保存・管理するための機器分析用データ管理システムであって、該データベースを複数構築することが可能であるシステムにおいて、
測定・分析データを予め指定されたデータベースに格納することができない格納障害を検知する障害検知手段と、
前記障害検知手段によって格納障害が検知された場合に、測定・分析データを一時データベースに格納する一時格納手段と、
前記格納障害が解消した後、該測定・分析データに関する格納先情報を読み出す格納先特定手段と、
前記格納先情報に基づき、測定・分析データを予め指定されたデータベースに格納するデータ復旧手段と、
を備えることを特徴とする機器分析用データ管理システム。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G06F12/00 531Z
, G06F12/00 531J
5B082DB00
, 5B082DC05
, 5B082DD04
