特許
J-GLOBAL ID:200903018116300976

超音波診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-172030
公開番号(公開出願番号):特開2006-345893
出願日: 2005年06月13日
公開日(公表日): 2006年12月28日
要約:
【課題】超音波画像内に対象組織の境界を正確に設定する。【解決手段】初期端点設定部によって初期端点A,Bが設定される(S201)。画像データ取得部は、A点とB点を結ぶ直線上の画素データを画像形成部内のメモリから読み込む(S202)。平滑化処理部は、読み込まれた直線上の輝度値(直線データ)に対して平滑化処理を施す(S203)。指標値算出部は、平滑化後の直線データに対して線形一次微分フィルタ処理を施す(S204)。重み付け処理部は、微分処理後の直線データに対して端点からの距離に応じた重み付け処理を施す(S205)。最終端点設定部は、A点およびB点の各々の近傍領域内において微分値が最大となる画素データを検出し、検出された画素データの位置に修正された端点として最終端点を設定する(S206)。距離計測部は、最終端点Cと最終端点Dとの間の距離を計測する(S207)。【選択図】図2
請求項(抜粋):
対象組織を含む空間内に超音波を送受波してエコーデータを取得する送受波手段と、 前記エコーデータに基づいて対象組織を含む超音波画像の画像データを形成する画像形成手段と、 対象組織の境界に対応した端点として前記画像データ内に初期端点を設定する初期端点設定手段と、 前記画像データ内の複数の画素データについて、各画素データごとにその近傍の画素データとの間における相違の度合いを示した指標値を算出する指標値算出手段と、 前記複数の画素データについての複数の指標値に対して、前記初期端点からの距離に応じた重み付け処理を施す重み付け処理手段と、 前記重み付け処理された複数の指標値に基づいて、前記初期端点の近傍領域内において指標値が最大となる画素データを検出し、検出された画素データの位置に修正された端点として最終端点を設定する最終端点設定手段と、 を有する、 ことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (2件):
A61B 8/00 ,  G06T 1/00
FI (2件):
A61B8/00 ,  G06T1/00 290D
Fターム (18件):
4C601BB02 ,  4C601EE09 ,  4C601JB33 ,  4C601JB46 ,  4C601JC04 ,  4C601JC09 ,  4C601KK28 ,  4C601LL04 ,  5B057AA07 ,  5B057BA05 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CE05 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16
引用特許:
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (7件)
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