特許
J-GLOBAL ID：200903019228271720

光起電力装置の検査装置および検査方法

発明者：
寺川 朗

寺川 朗 について


出願人/特許権者：
三洋電機株式会社

三洋電機株式会社 について


代理人 (1件)： 宮園 博一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-003809
公開番号（公開出願番号）：特開2004-221145
出願日： 2003年01月10日
公開日（公表日）： 2004年08月05日
要約：
【課題】非破壊、かつ、簡単な検査装置の構成で、光起電力装置の出力特性を検出することが可能な光起電力装置の検査方法を提供する。【解決手段】この光起電力装置の検査方法は、少なくとも1つのpin接合を有する光起電力装置に交流電圧を印加するステップと、前記交流電圧が印加された光起電力装置の応答出力を検出するステップとを備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
少なくとも1つのpin接合を有する光起電力装置に交流電圧を印加するステップと、 前記交流電圧が印加された光起電力装置の応答出力を検出するステップとを備えた、光起電力装置の検査方法。
IPC (2件)：
H01L31/04 ,  G01R31/26
FI (2件)：
H01L31/04 K ,  G01R31/26 F
Fターム (10件)：
2G003AA06 ,  2G003AB06 ,  2G003AB18 ,  2G003AE02 ,  2G003AF06 ,  2G003AH04 ,  5F051AA05 ,  5F051DA04 ,  5F051KA09 ,  5F051KA10
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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