特許
J-GLOBAL ID：200903019273394255
質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-116677
公開番号（公開出願番号）：特開2005-166627
出願日： 2004年04月12日
公開日（公表日）： 2005年06月23日
要約：
【課題】 TDC方式のデータ処理において、測定休止時間を最小限にし、更に、測定精度及びイオン検出分解能を向上することができる質量分析装置を提供する。【解決手段】 TDC方式のデータ処理技術を用いた質量分析装置であって、イオンを加速させるタイミングを決定するカウンタ67と、検出信号の立上りまたは立下りの変化に応じて出力値を変化させる変化点検出器62と、この出力をサンプリングした後に変化点情報から信号の有無情報に変換するデータ変換器66と、この出力を格納するFIFO68と、ここからのデータを読み出してイオンの飛行時間に変換する時間変換器70と、ここで変換した時間データに対応するヒストグラム処理を行い、この時間データをアドレスとして処理データを蓄積するメモリ71とを任意の組み合わせで備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料をイオン化して加速・飛行させ、この飛行したイオンを検出した検出信号をデジタル信号として変換後、このデジタル信号をサンプリングしてデータを格納する手段を持つ質量分析装置であって、
前記格納したデータを読み出して前記イオンの飛行時間に変換する時間変換器と、
前記時間変換器で変換した時間データに対応するヒストグラム処理を行い、この時間データをアドレスとして処理データを蓄積するメモリとを備えたことを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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