特許
J-GLOBAL ID：200903020473590162
センシング方法およびセンシング装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鷲田 公一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-258364
公開番号（公開出願番号）：特開2007-071667
出願日： 2005年09月06日
公開日（公表日）： 2007年03月22日
要約：
【課題】 蛍光センシングや反射光を用いることなく、高精度かつ定量的に検出対象物質を検出すること。 【解決手段】 金属構造体110は、表面に相補的な物質の一端が固定され、検出対象物質を含む試料を導入される。基板転送装置120は、金属構造体110を転送して、ステージ130上に載置する。吸収スペクトル測定装置140は、金属構造体110上の局在プラズモン共鳴の吸収スペクトルを測定する。シフト量算出部154は、金属構造体110上に相補的な物質の一端を固定した状態で測定した局在プラズモン共鳴の吸収スペクトルと、金属構造体110上に相補的な物質を固定しかつ検出対象物質を含む試料を導入した状態で測定した局在プラズモン共鳴の吸収スペクトルとのシフト量を算出する。解析部156は、算出されたシフト量を用いて試料に含まれる検出対象物質を解析する。 【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
局在プラズモン共鳴を示す金属構造体に誘起される局在プラズモン共鳴の吸収スペクトルを用いて、前記金属構造体に付着した検出対象物質を検出するセンシング方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N33/543 595
, G01N21/27 C
2G059AA02
, 2G059AA05
, 2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE10
, 2G059EE12
, 2G059FF03
, 2G059GG04
, 2G059GG06
, 2G059HH01
, 2G059JJ11
, 2G059MM01
, 2G059MM12
