特許
J-GLOBAL ID:200903020875283797

皮膚カテプシンの分析方法、皮膚の光ストレスの判定方法およびそのためのキット

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-053577
公開番号(公開出願番号):特開2009-210411
出願日: 2008年03月04日
公開日(公表日): 2009年09月17日
要約:
【課題】皮膚から採取された試料中における皮膚カテプシンを簡便・迅速に定量分析できる方法およびそのためのキットを提供する。皮膚から採取された試料から、皮膚の光ストレスのレベルを簡便・迅速に判定できる方法およびそのためのキットを提供する。【解決手段】皮膚から採取した試料中の皮膚カテプシンを、局在プラズモン共鳴を用いたイムノクロマトグラフィによって分析する方法、皮膚から採取した試料中の皮膚カテプシンおよび総タンパク質を測定し、総タンパク質に対する皮膚カテプシンの比から皮膚の光ストレスを判定する方法、ならびに、皮膚カテプシン阻害物質もさらに測定し、総タンパク質に対する皮膚カテプシンの比、総タンパク質に対する皮膚カテプシン阻害物質の比および皮膚カテプシン阻害物質に対する皮膚カテプシンの比から皮膚の光ストレスを判定する方法、ならびにこれらの方法を行うためのキット。【選択図】図1
請求項(抜粋):
皮膚から採取した試料中に含まれる皮膚カテプシンを、局在プラズモン共鳴を用いたイムノクロマトグラフィによって分析する方法。
IPC (3件):
G01N 33/573 ,  G01N 33/543 ,  G01N 33/553
FI (4件):
G01N33/573 A ,  G01N33/543 521 ,  G01N33/543 595 ,  G01N33/553
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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引用文献:
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