特許
J-GLOBAL ID:200903021389195505
実装用封止材及び半導体装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
小島 隆司
, 重松 沙織
, 小林 克成
, 石川 武史
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-169950
公開番号(公開出願番号):特開2008-177521
出願日: 2007年06月28日
公開日(公表日): 2008年07月31日
要約:
【課題】リペア、リワークの可能な半導体製品を与え、かつサイドフィル材としては、液状成分のブリードを抑制でき、サイドフィル材の基板と素子との間の間隙への侵入を防止し得、アンダーフィル材としては、隙間侵入性が良好である実装用封止材、及びこれにより封止された半導体装置を提供する。【解決手段】(A)液状エポキシ樹脂、(B)フェノール系硬化剤、(C)プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、(D)無機充填剤を含有する液状エポキシ樹脂組成物からなる、基板と該基板上に搭載された素子とを有する半導体装置の実装用封止材、及びこの封止材により封止された半導体装置。【選択図】なし
請求項(抜粋):
(A)液状エポキシ樹脂、
(B)フェノール系硬化剤、
(C)プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、
(D)無機充填剤
を含有する液状エポキシ樹脂組成物からなる、基板と該基板上に搭載された素子とを有する半導体装置の実装用封止材。
IPC (7件):
H01L 23/29
, H01L 23/31
, H01L 21/60
, C08G 59/62
, C08L 63/00
, C08K 5/10
, C08K 3/00
FI (6件):
H01L23/30 R
, H01L21/60 311Q
, C08G59/62
, C08L63/00 Z
, C08K5/10
, C08K3/00
Fターム (31件):
4J002CC032
, 4J002CC042
, 4J002CC052
, 4J002CC062
, 4J002CC072
, 4J002CD041
, 4J002CD051
, 4J002CD061
, 4J002CD071
, 4J002DE077
, 4J002DE147
, 4J002DJ017
, 4J002DK007
, 4J002EH036
, 4J002FD017
, 4J002FD142
, 4J002GQ05
, 4J036AA01
, 4J036AD08
, 4J036DB06
, 4J036FA01
, 4J036FA10
, 4J036FB07
, 4J036FB08
, 4J036JA07
, 4M109AA01
, 4M109BA04
, 4M109CA04
, 4M109EB09
, 5F044LL01
, 5F044RR17
引用特許: