特許
J-GLOBAL ID：200903021599790961

高分子重合物の分析方法及び分析装置

発明者：
佐藤 浩昭

佐藤 浩昭 について

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田尾 博明

田尾 博明 について

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市枝 信之

市枝 信之 について

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大谷 肇

大谷 肇 について

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青井 啓悟

青井 啓悟 について


出願人/特許権者：
独立行政法人産業技術総合研究所

独立行政法人産業技術総合研究所 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-120759
公開番号（公開出願番号）：特開2004-325265
出願日： 2003年04月24日
公開日（公表日）： 2004年11月18日
要約：
【課題】サイズ排除クロマトグラフィー分離における流路内の試料溶液の拡散や分離カラム内での充填剤と試料の相互作用などに起因する効果の影響を受けない、サイズ排除クロマトグラフィーと質量分析法を組み合わせた高分子重合物の絶対分子量分布、絶対平均分子量、及び組成などの測定法及び装置を提供する。【解決手段】高分子重合物試料をサイズ排除クロマトグラフィーにより分離、分取し、その各画分を質量分析して得られたマススペクトルのピーク強度を、対応する画分に対して観測されたサイズ排除クロマトグラフィーの検出器信号強度に基づいて補正することを特徴とする。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
高分子重合物の絶対分子量分布を測定する方法において、サイズ排除クロマトグラフィー(以下、SECとも言う)による分析方法、質量分析装置(以下、MSとも言う)による分析方法及びこれらの分析方法によるデータ処理からなり、SECによる分析方法により(A)、(B)、(C)、及び(D)の工程による処理を行い、次に(C)の工程により分取された画分についてMSによる分析方法により(E)および(F)の工程による処理を行い、(D)、(E)、及び(F)の工程による測定結果から、データ処理により(G)の工程の処理を行い、SECによる分析方法、MSによる分析方法及びデータ処理により(H)の工程の操作を行い、これらの結果からデータ処理により(I)の工程の処理を行うことによりMSによる分析方法の測定結果をSECによる分析の測定方法の結果によって補正することを特徴とする高分子重合物の絶対分子量分布を測定する方法。 (A) 高分子重合物をSECで分離する工程 (B) 工程(A)により分離された高分子重合物を検出する工程 (C) 工程(A)により分離された高分子重合物を、工程(B)と同時あるいは直後に連続的に分取する工程 (D) 工程(C)により分取された画分の数分率あるいは重量分率を、工程(B)により検出された信号強度から解析する工程 (E) 工程(C)により分取された画分に存在する高分子重合物を構成する各成分を、質量分析によって質量/電荷比に基づいて分離し、それぞれの信号強度を測定する工程 (F) 工程(E)により測定された質量/電荷比から高分子重合物を構成する各成分の分子量を決定する工程 (G) 工程(E)により測定された信号強度を、工程(D)による解析に基づき補正することによって、工程(F)で分子量が決定された各成分の数分率あるいは数分率に比例した値を解析する工程 (H) 工程(D)から(G)までの操作を、工程(C)により分取された全画分について行う工程 (I) 工程(H)の操作を行うことによって解析される全画分に存在する各成分ごとに、数分率あるいは数分率に比例する値の総和を求める工程
IPC (8件)：
G01N30/86 ,  G01N27/62 ,  G01N27/64 ,  G01N30/62 ,  G01N30/74 ,  G01N30/80 ,  G01N30/84 ,  G01N30/88
FI (15件)：
G01N30/86 G ,  G01N30/86 J ,  G01N27/62 D ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 L ,  G01N27/62 V ,  G01N27/64 B ,  G01N30/62 B ,  G01N30/74 E ,  G01N30/74 Z ,  G01N30/80 C ,  G01N30/84 A ,  G01N30/84 J ,  G01N30/84 Z ,  G01N30/88 P
引用特許：
出願人引用 (5件)
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引用文献：
出願人引用 (4件)
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