特許
J-GLOBAL ID：200903021843562607

三次元計測装置および三次元計測方法並びに三次元計測プログラム

発明者：
盧 存偉

盧 存偉 について


出願人/特許権者：
学校法人福岡工業大学

学校法人福岡工業大学 について


代理人 (1件)： 加藤 久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-336554
公開番号（公開出願番号）：特開2006-145405
出願日： 2004年11月19日
公開日（公表日）： 2006年06月08日
要約：
【課題】一回の投影で多くのパターン光情報を得ることができ、高速かつ高精度の三次元情報を得ることができる三次元計測装置および三次元計測方法ならびに三次元計測プログラムを提供する。【解決手段】本発明の三次元計測装置は、計測対象物Aにパターン光を投影する投影手段としてのパターン投影機1と、パターン光が投影された計測対象物Aを撮像して画像を撮像する撮像手段としてのカメラ2と、このカメラ2により撮像した画像のデータを処理するコンピュータ3とから構成される。コンピュータ3により、撮像された画像から検出された投影パターン光の強度値から投影パターン光を形成している個別パターン光の方向角が算出されるとともに強度分布が分割され、分割されたパターンの各計測点における位相値から奥行き距離が算出されるので、精度の高い三次元情報を得ることができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
計測対象物に投影する光のパターンを形成するパターン形成手段と、 前記計測対象物に前記パターン形成手段により形成されたパターンの光(以下、「パターン光」と称す。)を投影する投影手段と、 前記パターン光が投影された計測対象物を撮像して画像を取得する撮像手段と、 前記画像から前記投影されたパターン光(以下、「投影パターン光」と称す。)を検出する投影パターン光検出手段と、 前記投影パターン光と元のパターン光とを比較して前記投影パターン光の方向角を算出する方向角算出手段と、 前記投影パターン光を周期ごとに分割する分割手段と、 前記分割された投影パターン光から計測点の位相値を算出する位相値算出手段と、 前記算出された位相値より計測点の奥行き距離を算出する距離算出手段と、 前記算出された計測点の奥行き距離を用いて前記計測対象物の三次元情報を算出する三次元情報算出手段と を備える三次元計測装置。
IPC (6件)：
G01B 11/25 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G01B 11/28 ,  G06T 1/00 ,  G01B 11/24
FI (6件)：
G01B11/24 E ,  G01B11/00 H ,  G01B11/26 H ,  G01B11/28 Z ,  G06T1/00 315 ,  G01B11/24 K
Fターム (28件)：
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA31 ,  2F065AA53 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF42 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL53 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065RR09 ,  2F065UU01 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057DB03
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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