特許
J-GLOBAL ID:200903021893234783
GaN系半導体発光素子
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
高島 一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-156104
公開番号(公開出願番号):特開平11-354842
出願日: 1998年06月04日
公開日(公表日): 1999年12月24日
要約:
【要約】【課題】 GaN系発光素子のための量子ドットの最適な態様を示し、より高効率なGaN系発光素子を提供すること。【解決手段】 アンチサーファクタントの作用によってGaN系結晶層A上にGaN系の量子ドットdを形成し、さらに該量子ドットdを埋め込むまで前記層A上にGaN系結晶層Bを成長させてGaN系の量子ドット構造3を構成し、これを発光に係る部分としてGaN系半導体発光素子を形成する。このとき、結晶層Aおよび結晶層Bのバンドギャップを、量子ドットのバンドギャップよりも大きいものとし、個々の量子ドットの高さh、幅w、結晶層Aの上面における量子ドットの分散の度合い(密度)ρを、0.5nm≦h≦50nm、0.5nm≦w≦200nm、106 cm-2≦ρ≦1013cm-2とする。
請求項(抜粋):
量子ドット構造を発光に係る部分として有するGaN系半導体発光素子であって、前記量子ドット構造は、GaN系材料からなる結晶層(A)と、この層上面に分散して形成されたGaN系材料からなる量子ドットと、この量子ドットを埋め込んで前記層上に成長したGaN系材料からなる結晶層(B)とを有する構造であり、結晶層(A)および結晶層(B)の材料の各々のバンドギャップは、量子ドットの材料のバンドギャップよりも大きく、各層の層厚方向についての各々の量子ドットの寸法を高さhとし、各層の拡がる方向についての各々の量子ドットの寸法を幅wとし、結晶層(A)の上面における量子ドットの分散の度合いを密度ρとして、0.5nm≦h≦50nm、0.5nm≦w≦200nm、106 cm-2≦ρ≦1013cm-2、であることを特徴とするGaN系半導体発光素子。
IPC (2件):
FI (2件):
引用特許: