試料加熱・冷却装置および熱分析装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山本寿武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-299895
公開番号（公開出願番号）：特開平11-132977
出願日： 1997年10月31日
公開日（公表日）： 1999年05月21日
要約：

【要約】【課題】試料に対するX線回折測定のためのX線軌道を確保するとともに、試料を安定して加熱または冷却できるようにして、XRD測定と同時に高精度なDSC測定を実施可能とする。【解決手段】標準試料ホルダ31および測定試料ホルダ32の内部に試料加熱ヒータを設け試料を底面から加熱する。また、標準試料ホルダ31および測定試料ホルダ32の周囲に試料カバー40を配設することにより、各ホルダ31,32の周囲における対流の発生を抑制する。さらに、試料カバー40の周囲に外カバー50を配設するとともに、これら試料カバー40の内部空間および外カバー50の内部空間に乾燥ガスを供給し、試料カバー40の内外面および外カバー50の内面に対する冷却時の結露を防止する。加えて、外カバー50の温度を板状ヒータ12により調節し、外カバー50の外面に対する結露を防止する。

請求項（抜粋）：

試料を充填する試料ホルダと、この試料ホルダを底面から加熱する試料加熱手段と、前記試料ホルダを冷却する試料冷却手段とを備え、かつ、X線透過材料からなるX線透過窓を有した試料カバーを前記試料ホルダの周囲に配設したことを特徴とする試料加熱・冷却装置。

IPC (2件)：

G01N 25/20 , G01N 23/20

FI (2件)：

G01N 25/20 F , G01N 23/20

引用特許：

審査官引用 (8件)

熱分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-265183 出願人：セイコー電子工業株式会社
試料加熱冷却装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-235851 出願人：理学電機株式会社
試料加熱冷却装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-235852 出願人：理学電機株式会社

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