特許
J-GLOBAL ID：200903023615973586

3次元測定方法および装置

発明者：
福本 忠士

福本 忠士 について

, 
森本 浩司

森本 浩司 について


出願人/特許権者：
コニカミノルタセンシング株式会社

コニカミノルタセンシング株式会社 について


代理人 (1件)： 久保 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-371511
公開番号（公開出願番号）：特開2007-171077
出願日： 2005年12月26日
公開日（公表日）： 2007年07月05日
要約：
【課題】3次元測定機の姿勢を様々に変化させたときに生じる測定データの誤差を簡便に且つより精度よく補正する。【解決手段】3次元測定機2を用いて物体の表面の3次元形状の測定を行う3次元測定方法であって、3次元測定機2の姿勢を検出する姿勢センサSE1、および3次元測定機2の姿勢に対応したパラメータを格納したパラメータテーブルを予め設けておき、3次元測定機2により物体を測定して得られた測定データD1と、3次元測定機2の測定時の姿勢に対応してパラメータテーブルから読み出されたパラメータとを用いて、物体の3次元形状データを演算する。【選択図】図24
請求項（抜粋）：
3次元測定機を用いて物体の表面の3次元形状の測定を行う3次元測定方法であって、 前記3次元測定機の姿勢を検出する姿勢センサ、および前記3次元測定機の姿勢に対応したパラメータを格納したパラメータテーブルを予め設けておき、 前記3次元測定機により物体を測定して得られた測定データと、前記3次元測定機の測定時の姿勢に対応して前記パラメータテーブルから読み出されたパラメータとを用いて、前記物体の3次元形状データを演算する、 ことを特徴とする3次元測定方法。
IPC (1件)：
G01B 11/00
FI (1件)：
G01B11/00 H
Fターム (14件)：
2F065AA04 ,  2F065AA37 ,  2F065AA53 ,  2F065EE00 ,  2F065EE01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065FF51 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ05 ,  2F065QQ00
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (9件)
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