特許
J-GLOBAL ID：200903024196912950
電子部品検査プローブ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
小宮 良雄
, 大西 浩之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-054321
公開番号（公開出願番号）：特開2007-232558
出願日： 2006年03月01日
公開日（公表日）： 2007年09月13日
要約：
【課題】被検査物である精細化した電子部品のプリントパターンや回路素子へ確実に接触する簡易な検査プローブを提供する。 【解決手段】検査プローブは、多数の検査ポイント12を備えた電子部品11と、多数の入力リード線26を備えた検査機器との間に、各々が絶縁された若干のバネ性を有する多数の金属芯線18を介在させ、該電子部品11を押し付けることで金属芯線18のバネ性によって各検査ポイント12と各入力端子との間に各金属芯線18の両端が接触して電気的に導通させる検査プローブであって、検査ポイント12の配列間隔Xpは該金属芯線18の配列間隔Ppよりも小さく、隣り合う該各検査ポイント12が該各金属芯線18へ接触し得る最大幅Xoutは、各金属芯線18の間隙距離Pinよりも大きい。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
多数の検査ポイントを備えた電子部品と、多数の入力リード線を備えた検査機器との間に、各々が絶縁された若干のバネ性を有する多数の金属芯線を介在させ、該電子部品を押し付けることで金属芯線のバネ性によって各検査ポイントと各入力端子との間に各金属芯線の両端が接触して電気的に導通させる検査プローブであって、検査ポイントの配列間隔が該金属芯線の配列間隔よりも小さく、隣り合う検査ポイントの導通部の最遠距離が隣り合う金属芯線の最近距離よりも大きいことを特徴とする検査プローブ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (7件)：
2G011AA16
, 2G011AB01
, 2G011AB04
, 2G011AB06
, 2G011AB07
, 2G011AC14
, 2G011AE01
出願人引用 (2件)
審査官引用 (7件)
全件表示
前のページに戻る
