メモリ素子用の歪み推定と誤り訂正符号化の組み合せ

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：齋藤和則 , 伊東哲也
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-508669
公開番号（公開出願番号）：特表2009-537056
出願日： 2007年05月10日
公開日（公表日）： 2009年10月22日
要約：

メモリ素子(24)を動作させる方法が、データを誤り訂正記号(ECC)を用いて符号化する段階と、符号化データを第1アナログ値としてメモリ素子の関連アナログ・メモリ・セル(32)に格納する段階とを含む。符号化データを格納後に、第2アナログ値が符号化データを格納したメモリ素子の関連メモリセルから読み取られる。第2アナログ値の少なくともいくつかは関連第1アナログ値と異なる。第2アナログ値に含まれる歪みが推定される。誤り訂正メトリクスが推定歪みに応答可能なように第2アナログ値に関して計算される。第2アナログ値は、データを復元するために、ECC復号プロセスで誤り訂正メトリクスを用いて処理される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

メモリ素子を動作させる方法であって、データを誤り訂正記号(ECC)を用いて符号化し、前記符号化データを第1アナログ値として前記メモリ素子の関連アナログ・メモリ・セルに格納する段階と、前記符号化データを格納した後に、前記符号化データが格納された前記メモリ素子の前記メモリセルから関連第2アナログ値を読み取る段階であって、前記関連第2アナログ値の少なくともいくつかは前記関連第1アナログ値と異なる段階と、前記第2アナログ値に含まれる歪みを推定する段階と、前記推定歪みに応答可能なように前記第2アナログ値に関して誤り訂正メトリクスを計算する段階と、前記データを復元するために、ECC復号プロセスで前記誤り訂正メトリクスを用いて前記第2アナログ値を処理する段階と、を含む方法。

IPC (1件)：

G11C 16/06

FI (1件)：

G11C17/00 639C

Fターム (7件)：

5B125BA01 , 5B125BA19 , 5B125CA11 , 5B125DE07 , 5B125DE08 , 5B125FA02 , 5B125FA05

引用特許：

出願人引用 (10件)

米国特許第6,212,654号明細書
米国特許第6,469,931号明細書
米国特許第7,023,735号明細書

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