特許
J-GLOBAL ID:200903024946139930

放射線測定システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 竹中 岑生 ,  大岩 増雄 ,  児玉 俊英 ,  村上 啓吾
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-008184
公開番号(公開出願番号):特開2007-192548
出願日: 2006年01月17日
公開日(公表日): 2007年08月02日
要約:
【課題】β線を高感度かつ高精度に測定できる放射線測定システムを得る。【解決手段】被測定体1側から順に、被測定体1から放射される放射線および環境γ線と反応する第1のシンチレーションファイバー層21a、被測定体1から放射されるβ線を遮断するβ線遮蔽体層22、環境γ線と反応する第2のシンチレーションファイバー層21bの順に配列し、第1のシンチレーションファイバー層21aおよび第2のシンチレーションファイバー層21bが放射線に反応した結果としての蛍光をそれぞれパルス信号に変換して出力する検出部と、該パルス信号を入力して計数し、工学値に変換して出力する測定部を備え、第2のシンチレーションファイバー層21bで検出された放射線の測定結果に基づきγ線の影響を推定し、第1のシンチレーションファイバー層21aで検出された放射線の測定結果から上記γ線の影響を補償して被測定体から放出されるβ線を測定する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
被測定体から放射される放射線および環境γ線と反応する第1の反応体、被測定体から放射されるβ線を遮断するβ線遮蔽体、被測定体から放射される放射線を前記β線遮蔽体を介して受け環境γ線と反応する第2の反応体、前記第1の反応体および第2の反応体が放射線に反応した結果をそれぞれ計数用信号に変換する変換部、前記変換部により変換された計数用信号を入力して演算し工学値に変換して出力する測定部を備え、前記測定部には、第2の反応体で検出された放射線の測定結果に基づきγ線の影響度を導出するγ線影響度導出手段と、第1の反応体で検出された放射線の測定結果に基づきこの測定結果に前記γ線影響度導出手段で導出されたγ線影響度を補償して被測定体から放出されるβ線を測定するβ線測定手段とを設けたことを特徴とする放射線測定システム。
IPC (4件):
G01T 1/167 ,  G01T 1/169 ,  G01T 1/00 ,  G01T 1/20
FI (4件):
G01T1/167 B ,  G01T1/169 A ,  G01T1/00 A ,  G01T1/20 B
Fターム (17件):
2G088AA03 ,  2G088EE12 ,  2G088EE17 ,  2G088FF04 ,  2G088FF05 ,  2G088GG15 ,  2G088HH09 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ29 ,  2G088KK07 ,  2G088KK15 ,  2G088KK28 ,  2G088KK29 ,  2G088LL02 ,  2G088LL03 ,  2G088LL06
引用特許:
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (11件)
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