特許
J-GLOBAL ID：200903025057740556

外観検査システム

発明者：
秋山 吉宏

秋山 吉宏 について


出願人/特許権者：
株式会社サキコーポレーション

株式会社サキコーポレーション について


代理人 (1件)： 森下 賢樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-377875
公開番号（公開出願番号）：特開2002-181728
出願日： 2000年12月12日
公開日（公表日）： 2002年06月26日
要約：
【要約】【課題】 外観検査装置を現場の作業者が使いこなすには専門的なノウハウが必要であり、検査に手間取っていた。【解決手段】 ユーザ端末80と通信できるサーバ60に外観検査装置10を接続した。外観検査装置10は、被検査物の基板面を走査して画像を取り込み、所定の合否判断基準に照らし、検査項目ごとに合否を判定する。サーバ60は、外観検査装置10に伝達すべき指令をユーザに入力させるためのページデータを生成するページ生成部70と、そのページデータをユーザ端末80へ送信する第2の通信部76と、そのページデータに対してユーザが入力した指令を受信して、外観検査装置10が解釈可能なデータとして外観検査装置10へ伝達する中継処理部68とを含む。
請求項（抜粋）：
検査装置と、ネットワークを介して前記検査装置と通信可能なユーザ端末とを含み、前記検査装置は、被検査物の基板面を走査して画像を取り込む走査ヘッドと、前記取り込まれた画像を記憶するメモリと、前記ユーザ端末と通信する通信部とを含み、前記ユーザ端末は、前記検査装置の前記メモリに記憶された画像の少なくとも一部を参照して、前記検査装置に所定の設定を行う制御部を含み、前記記憶された画像を所定の合否判断基準に照らし、検査項目ごとに合否を判定する解析部を前記検査装置または前記ユーザ端末のいずれかに設けたことを特徴とする外観検査システム。
IPC (6件)：
G01N 21/956 ,  G06T 1/00 305 ,  H05K 3/00 ,  H05K 3/34 512 ,  H05K 13/08 ,  G01B 11/00
FI (6件)：
G01N 21/956 B ,  G06T 1/00 305 A ,  H05K 3/00 Q ,  H05K 3/34 512 B ,  H05K 13/08 U ,  G01B 11/00 H
Fターム (52件)：
2F065AA03 ,  2F065AA07 ,  2F065AA16 ,  2F065AA61 ,  2F065BB05 ,  2F065CC28 ,  2F065DD00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065MM07 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065RR08 ,  2F065SS04 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051AC01 ,  2G051BA01 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CD04 ,  2G051DA07 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC02 ,  2G051ED15 ,  2G051FA10 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057BA11 ,  5B057BA17 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CE11 ,  5B057CH11 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC32 ,  5E319AA01 ,  5E319AC01 ,  5E319CD53 ,  5E319GG03 ,  5E319GG09 ,  5E319GG15
引用特許：
審査官引用 (6件)
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