特許
J-GLOBAL ID：200903025960385894

移動不良検出装置

発明者：
加藤 明彦

加藤 明彦 について


出願人/特許権者：
アイシン・エィ・ダブリュ株式会社

アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 について


代理人 (1件)： 近島 一夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-154449
公開番号（公開出願番号）：特開2008-304041
出願日： 2007年06月11日
公開日（公表日）： 2008年12月18日
要約：
【課題】ソレノイドバルブ作動時に変化するインダクタンスの監視に基づき、ソレノイドの可動子の移動不良状態を有効に検出できるようにした移動不良検出装置を提供する。【解決手段】インダクタンス監視手段41が、駆動信号の入力でソレノイド部1に発生するインダクタンスを監視し、移動不良判定手段40が、駆動信号出力時のインダクタンス値の変化に基づいて可動子移動不良発生の有無を判定する。これにより、シャフト7とプランジャ6からなる可動子の移動不良状態を確実に検出できるので、バルブスティックを電気的に検出しながらも、複数の接続端子間でスプール及び可動子を含んで構成されるような従来の当接検知用電気回路等を備えることなく、ソレノイド部自身の構造を複雑にすることのない装置を実現できる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
駆動信号の入力で励磁するソレノイド部の可動子とともにスプールが初期位置から調圧位置に移動するソレノイドバルブの可動子移動不良を検出する移動不良検出装置において、 前記駆動信号の入力で前記ソレノイド部に発生するインダクタンスを監視するインダクタンス監視手段と、 前記駆動信号の出力時、前記インダクタンス監視手段の監視によるインダクタンス値の変化に基づいて可動子移動不良発生の有無を判定する移動不良判定手段と、を備える、 ことを特徴とする移動不良検出装置。
IPC (3件)：
F16K 31/06 ,  F16K 37/00 ,  H01F 7/18
FI (3件)：
F16K31/06 320A ,  F16K37/00 F ,  H01F7/18 K
Fターム (15件)：
3H065AA04 ,  3H065BA02 ,  3H065BA07 ,  3H065BB13 ,  3H065CA01 ,  3H065CA03 ,  3H106DA23 ,  3H106DB02 ,  3H106DB12 ,  3H106DB23 ,  3H106DB32 ,  3H106DC09 ,  3H106DD09 ,  3H106EE28 ,  3H106FB08
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (3件)

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