光学式計測装置および光学式計測装置の制御方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：深見久郎 , 森田俊雄 , 仲村義平 , 堀井豊 , 野田久登 , 酒井將行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-220076
公開番号（公開出願番号）：特開2008-045928
出願日： 2006年08月11日
公開日（公表日）： 2008年02月28日
要約：

【課題】条件を変えて合成画像を生成することが短時間でかつ簡易な操作で可能な光学式計測装置を提供する。【解決手段】光学式計測装置は、撮影画像を複数枚記憶可能な画像記憶部(102b)と、撮影画像の輝度に影響を与える撮影条件を規定するパラメータの少なくとも1つの値を変更することにより複数の撮影条件を指定し、撮影条件の異なる撮影画像を複数枚撮影部に取得させ、複数枚の撮影画像を画像記憶部に記憶させる制御部(101)とを備える。制御部(101)は、ユーザからの指示に基づき、画像記憶部に記憶された複数枚の画像のうちから合成画像を作成するために使用する画像を選択し、選択した画像を読み出して所定の輝度条件を満足する領域の画像を抽出し、各選択画像の抽出した領域を寄せ集めて合成画像を生成し、合成画像に含まれる断面輪郭線像に基づいて計測処理を実行する。【選択図】図19

請求項（抜粋）：

計測対象物体の表面の線状領域に光を照射する投光部と、前記光によって照射された前記線状領域の撮影画像が前記計測対象物体の表面高さに応じて変化する方向から、前記線状領域を撮影して光切断面の断面輪郭線像を含む前記撮影画像を取得する撮影部と、前記撮影画像を複数枚記憶可能な画像記憶部と、前記撮影画像の輝度に影響を与える撮影条件を規定するパラメータの少なくとも1つの値を変更することにより複数の撮影条件を指定し、前記撮影条件の異なる前記撮影画像を複数枚前記撮影部に取得させ、前記複数枚の前記撮影画像を前記画像記憶部に記憶させる制御部とを備え、前記制御部は、ユーザからの指示に基づき、前記画像記憶部に記憶された複数枚の画像のうちから合成画像を作成するために使用する画像を選択し、選択した画像を読み出して所定の輝度条件を満足する領域の画像を抽出し、各選択画像の抽出した領域を寄せ集めて合成画像を生成し、前記合成画像に含まれる断面輪郭線像に基づいて計測処理を実行する、光学式計測装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 , G06T 3/00 , G06T 1/00

FI (3件)：

G01B11/24 K , G06T3/00 300 , G06T1/00 300

Fターム (40件)：

2F065AA52 , 2F065BB05 , 2F065DD06 , 2F065FF01 , 2F065FF02 , 2F065FF04 , 2F065FF09 , 2F065GG06 , 2F065GG08 , 2F065HH05 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL04 , 2F065LL28 , 2F065MM03 , 2F065PP12 , 2F065QQ03 , 2F065QQ23 , 2F065QQ25 , 2F065QQ27 , 2F065QQ28 , 2F065RR07 , 2F065UU05 , 5B057AA02 , 5B057BA02 , 5B057BA24 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CB08 , 5B057CB12 , 5B057CB16 , 5B057CE08 , 5B057CH11 , 5B057DA03 , 5B057DA20 , 5B057DB02 , 5B057DB09 , 5B057DC09 , 5B057DC17

引用特許：

出願人引用 (1件)

特許第3575693号公報

審査官引用 (5件)

光学式計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-062752 出願人：オムロン株式会社
波長選択機能を利用した検査対象物の検査
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-328190 出願人：大日本スクリーン製造株式会社
3次元計測のための分光装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-274579 出願人：ミノルタ株式会社

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